CPU供电部分：

1、 场效应管击穿，造成ATX电源保护，现象是风扇转一下就停，主板诊断卡上的灯亮一下就灭。拔下CPU12V供电，开机正常。具体诊断方法：将数字万用表拨到二极管档，然后先将场效应管的三个引脚短接，接着用两支表笔分别接触场效应管三个引脚中的两个，测得三组数据如果其中两组数据为1，另一组数据为300-800欧，则说明场效应管正常；如果其中有一组数据为0，则场效应管击穿。

2、 CPU滤波电容损坏，造成无法正常供电或主板工作不稳。具体诊断方法：测量前观察电容有无鼓包或烧坏，若有则更换。将万用表调到“20K”档，红表笔接电容的正极，黑表笔接电容的负极，如果显示值从“000”开始逐渐增加，最后显示“1”，则表明电容正常；如果始终显示“000”，则内部短路，如果始终显示“1”，则内部开路。电容起鼓或爆浆的原因：一是主板温度过高导致，如CPU风扇转速慢或不转；散热片灰尘太多；CPU卡座损坏等。二是电源输出电压不稳，造成主板许多地方的电容鼓包。电容出现问题会引起主板开不了机或不定期死机、蓝屏、黑屏等故障。

更换原则：耐压比原来大一点或相同即可。容量正负20%.

3、 场效应管变劣老化。漏极有输入电压，栅极有控制电压(高端管为3V左右;低端管为10V左右)，源极无输出电压，则场效应管坏。

更换原则:使用相同的型号或功率大一点、极性相同的场管更换。如：70T03替换60T03；85N03L替换70N03L等。注意:CPU主供电场效应管全为N沟道。源极对地阻值不应为0.（至少有3欧阻值）。

4、 电源管理芯片损坏。如果场效应管和电容测量正常，而上管栅极无控制电压，则检查电源管理芯片的供电脚有无5V或12V电压，如果有，再检查PG信号脚有无电压，如果有则电源管理芯片损坏。对于有驱动芯片的电路，则可检查有无供电电压和PWM控制信号，如果有输入而无输出，则驱动芯片损坏，如果无PWM控制信号输入，则可检查主控芯片有无供电、有无PG信号，如果有则主控芯片损坏。如果没有输入电压或PG信号，则应查修相关电路。若触摸到芯片有异常发烫或观察到有烧蚀的现象可直接更换。如果CPU供电电压过高或过低，也是电源管理芯片损坏。过低会使CPU不发热；过高会使CPU几秒钟内烫手，说明CPU已经击穿。所以，测试时应按上假负载以防损坏CPU。更换原则：同型号更换或参考下列型号更换：RT9224—HIP6004B, RT9227A—HIP6016， RT9228—HIP6018B, RT9231A—HIP6021A, RT9238—ISL6524， RT9239—HIP6012

5、 电感线圈变色，电流过高引起匝间短路，更换原则：铜圈大小相同,铜丝粗细相同，匝数相同。

内存供电部分

内存供电方式有调压式供电或开关电源式供电。现已调压式供电为例具体解析内存供电故障：

1、检测场效应管是否被击穿，若击穿则更换。

2、若场效应管未被击穿，测场效应管的S极有无电压输出，若无，检测场效应管的D极有无3.3V或5V电压输入，若有，检测场效应管的栅极有无3-5V控制电压，若有，则场效应管坏，若无，检测LM358的12V供电是否正常，若正常则检查电源插座到LM358芯片的正相输入端（第五脚）之间的元器件故障（如分压电阻、WL431等），若输入端正常，则LM358损坏。

3、无论是内存供电电路，还是CPU供电电路，若有场效应管击穿，最好同时更换滤波电容，或对电容进行严密检测，以防漏电，造成场效应管再次击穿。

4、滤波电容变质或电源管理芯片输出电压偏低，会造成找不到内存或出现蓝屏、死机、花屏、黑屏。

5、内存插反会造成内存供电路烧毁。

6、内存条过多，会增加内存供电电路负担，造成电路烧毁。

7、内存金手指与内存插槽接触不良，清擦或刮槽。

8、内存损坏，更换。

芯片组和AGP部分

主板芯片组、AGP供电与内存供电相似，也是具有调压式供电或开关电源式供电两种方式。值得注意的是一套开关电源式供电电路可同时输出多种电压，供芯片组和AGP使用，至于PCI-E，则有3.3V辅助电压电路，由场效应管和三端稳压器组成，具体检测方法同内存。其他芯片的供电直接由ATX电源提供，无需转换。一般检测芯片周围的电感或电容、保险电阻即可。